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參數資料
| 型號： | MCF5272 |
| 廠商： | Motorola, Inc. |
| 英文描述： | MCF5272 ColdFire Integrated Microprocessor Users Manual |
| 中文描述： | MCF5272的ColdFire集成式微處理器用戶手冊 |
| 文件頁數： | 450/550頁 |
| 文件大?。?/td> | 6709K |
| 代理商： | MCF5272 |
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19-36
MCF5272 User’s Manual
MOTOROLA
JTAG Test Access Port and BDM Debug Port
19.16.3.4 INT4 and Port 3 GCI/IDL Data In (INT4/DIN3)
IDL mode: This pin can be con
fi
gured as a dedicated input, DIN3, for clocking data into
IDL port 3. Data is clocked into DIN3 on the falling edge of DCL1. Data is clocked into
DIN3 on the falling edge of DCL1. This is done by setting a bit in the PLIC module
con
fi
guration register. Note that the appropriate bits must be set in the pin con
fi
guration
register to reassign this pin from the interrupt module to the PLIC module.
GCI mode: This pin can be con
fi
gured as a dedicated input, DIN3, for clocking data into
GCI port 3. DCL1 is twice the bit rate, that is, two clocks per data bit. This is done by setting
a bit in the PLIC module con
fi
guration register. Note that the appropriate bits must be set
in the pin con
fi
guration register to reassign this spin from the interrupt module to the PLIC
module.
Interrupt mode: This signal can be con
fi
gured as interrupt input 4.
19.17 JTAG Test Access Port and BDM Debug Port
The MCF5272 supports the Motorola background debug mode (BDM) for ColdFire
processors. It also supports a JTAG test interface.
The following signals do not support JTAG due to the critical timing required to support
SDRAM memory: BS[3:0], RAS0, CAS0, SDCLK, SDCLKE, SDRAMCS/CS7, SDWE,
A10_PRECHG, SDBA[1:0], D[31:0], A[15:0].
19.17.1 Test Clock (TCK/PSTCLK)
JTAG mode: TCK is the dedicated JTAG test logic clock, independent of the CPU system
clock. This input provides a clock for on-board test logic de
fi
ned by the IEEE 1149.1
standard.
TCK should be grounded if the JTAG port is not used and MTMOD is tied low.
BDM mode: PSTCLK is an output at the same frequency as the CPU clock. It is used for
indicating valid processor status data on the PST and DDATA pins.
19.17.2 Test Mode Select and Force Breakpoint (TMS/BKPT)
JTAG mode: The TMS input controls test mode operations for on-board test logic de
fi
ned
by the IEEE 1149.1 standard. Connecting TMS to VDD disables the test controller, making
all JTAG circuits transparent to the system.
BDM mode: The hardware breakpoint input, BKPT, requires a 10-K
pullup resistor.
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| MCF5407 | ColdFire Integrated Microprocessor(ColdFire微處理器) |
| MCM101524 | 1M x 4 Bit Fast Static Random Access Memory with ECL I/O |
| MCM101524B12 | 1M x 4 Bit Fast Static Random Access Memory with ECL I/O |
| MCM101524B15 | 1M x 4 Bit Fast Static Random Access Memory with ECL I/O |
| MCM101525 | 2M x 2 Bit Fast Static Random Access Memory with ECL I/O |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
| MCF5272CVF66 | 功能描述:微處理器 - MPU 66MHz 63MIPS RoHS:否 制造商:Atmel 處理器系列:SAMA5D31 核心:ARM Cortex A5 數據總線寬度:32 bit 最大時鐘頻率:536 MHz 程序存儲器大小:32 KB 數據 RAM 大小:128 KB 接口類型:CAN, Ethernet, LIN, SPI,TWI, UART, USB 工作電源電壓:1.8 V to 3.3 V 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-324 |
| MCF5272CVF66J | 功能描述:32位微控制器 - MCU V2CORE 4KSRAM RoHS:否 制造商:Texas Instruments 核心:C28x 處理器系列:TMS320F28x 數據總線寬度:32 bit 最大時鐘頻率:90 MHz 程序存儲器大小:64 KB 數據 RAM 大小:26 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:2.97 V to 3.63 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 105 C 封裝 / 箱體:LQFP-80 安裝風格:SMD/SMT |
| MCF5272CVM66 | 功能描述:微處理器 - MPU 66MHz 63MIPS RoHS:否 制造商:Atmel 處理器系列:SAMA5D31 核心:ARM Cortex A5 數據總線寬度:32 bit 最大時鐘頻率:536 MHz 程序存儲器大小:32 KB 數據 RAM 大小:128 KB 接口類型:CAN, Ethernet, LIN, SPI,TWI, UART, USB 工作電源電壓:1.8 V to 3.3 V 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:FBGA-324 |
| MCF5272CVM66J | 功能描述:32位微控制器 - MCU V2CORE 4KSRAM RoHS:否 制造商:Texas Instruments 核心:C28x 處理器系列:TMS320F28x 數據總線寬度:32 bit 最大時鐘頻率:90 MHz 程序存儲器大小:64 KB 數據 RAM 大小:26 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:2.97 V to 3.63 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 105 C 封裝 / 箱體:LQFP-80 安裝風格:SMD/SMT |
| MCF5272CVM66J | 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:IC MCU 32-BIT 66MHZ MAPBGA-196 |
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